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大英エレクトロニクス株式会社は、みなさまの”ものづくり”をサポート致します。

TEL. 042-663-3131

〒193-0834 東京都八王子市東浅川町555−5

外観検査装置の販売

高性能・低価格マルチ検査装置

XET-PATTERN TESTERシリーズ (XET-パターン テスター シリーズ)

 XET-HS
 
高精細ガラスマスク(エマルジョン、クロム)を主に検査対象と致します。
●検査対象:ガラスマスク(エマルジョン、クロム)その他透過及び落射光源で検査可能なフラット製品
●検査対象パターン例:インターポーザー配線、ガラス微細孔、FPD配線(デジタルサイネージ微細配線含む)
●欠陥検出内容:配線パターンの断線、ショート、ギャップ小、異物付着、ピンホール等
●検査方式:検査対象品製造データと製品撮像データとの比較検査及び独自アルゴリズムによるDRC検査
●分解能:最小画素約0.3μm(レンズにより可変)
●製品最大検査エリア:約800x800mm〜900x1400mmまたはタイプ別特注寸法
●検査用データ:ガーバー、GDSU、DXF等
 XET-MT
 
検査範囲が枠外周1000x1000mmまでの大型な検査対象物の検査も可能です。
●検査対象:大型なスクリーン、フィルム、クロム、メタルマスクその他透過及び落射光源で検査可能なフラット製品
●検査対象パターン例:スクリーンマスク、メタルマスク開口部、フィルム、クロムマスクパターン配線
●欠陥検出内容:スクリーンマスクの目詰まり、配線パターンの断線、ショート、ギャップ小、異物付着、ピンホール等
●検査方式:検査対象品製造データと製品撮像データとの比較検査及び独自アルゴリズムによるDRC検査
●分解能:最小画素1μm〜7μm(レンズにより可変)
●製品最大検査エリア:約900x900mm
●検査用データ:ガーバー、GDSU、DXF等

※改良のためデザイン・仕様が変更することがあります

特徴

 CAD比較による高性能欠陥検出
 新開発アルゴリズムによりCAD比較のみの検査において高性能検出を実現
 低ランニングコスト

簡単操作

 簡単操作(オペレータ)
●オペレータは検査物を置いて、基準点をあわせるだけ
●検査終了後は欠陥リストから欠陥内容を確認します
簡単操作(エンジニア)
●簡単に光源の切り替え・レンズの交換が可能となります。交換後のシビアな調整の必要はありません。ワークに合わせ検査条件を作成しておけば同条件の検査を素早く行うことができます。 

実績

●20年前から主に日本国内市場において600台以上の販売実績(初代装置から〜)
●日本国内において20年近く稼働している現役装置多数


お問い合わせ連絡先

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販売代理店

大英エレクトロニクス株式会社


〒193-0834   東京都八王子市東浅川町555−5
 メール:t-nozawa daiei-e.jp
TEL:042−663−3131
FAX:042−663−1742

担当 : 野沢  隆


バナースペース

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